X射線金屬鍍層測厚儀的詳細資料₪▩₪│•:
韓國先鋒XRF-2000測厚儀
X射線金屬鍍層測厚儀
檢測電子及五金電鍍,電路板,LED支架,端子類電鍍層厚度
主要檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等
可測單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
韓國XRF2000鍍層測厚儀
全自動檯面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品)
測量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測試範圍₪▩₪│•:0.03-35um
可測試單層◕✘☁•,雙層◕✘☁•,多層及合金鍍層厚度
(單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等)
(雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等)
多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳,再鍍金等)
合金鍍層:如鐵上鍍錫銅等
測量時間₪▩₪│•:10-30秒
提供金屬鍍層厚度的測量◕✘☁•,同時可對電鍍液進行分析◕✘☁•,不單效能優越,而且價錢*
同比其他牌子相同配置的機器◕✘☁•,XRF2000為您大大節省成本↟╃│▩。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任↟╃│▩。全自動XYZ樣品臺◕✘☁•,鐳射自動對焦系統◕✘☁•,十字線自動調整↟╃│▩。超大/開放式的樣品臺◕✘☁•,
可測量較大的產品↟╃│▩。是線路板↟│·、五金電鍍↟│·、首飾↟│·、端子等行業的↟╃│▩。可測量各類金屬層↟│·、合金層厚度等↟╃│▩。
可測元素範圍₪▩₪│•:鈦(Ti) – 鈾(U) 原子序 22 – 92
準直器₪▩₪│•:固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統計功能
XRF-2000 X射線金屬鍍層測厚儀
檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
測量範圍:0.03-35um
測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度
全自動檯面,操作非常方便簡單
如果你對X射線金屬鍍層測厚儀感興趣◕✘☁•,想了解更詳細的產品資訊◕✘☁•,填寫下表直接與廠家聯絡₪▩₪│•: |