韓國Micro Pioneer(先鋒)X射線鍍層測厚儀

XRF-2000鍍層測厚儀型號

不同型號功能相同

機箱容納樣品大小有以下不同要求

XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹

XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm

XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm

XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm(開放式設計,可檢測大型樣品

韓國先鋒XRF－2000鍍層測厚儀(*)

檢測電子及五金電鍍,化學電鍍層厚度

主要檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等

韓國XRF2000鍍層測厚儀

全自動檯面
自動雷射對焦

可測試單層╃╃·，雙層╃╃·，多層及合金鍍層厚度
(單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等)
(雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等)
多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳,再鍍金等)
合金鍍層:如鐵上鍍錫銅等
測量時間₪╃：10－30秒

XRF-2000鍍層測厚儀:X射線銅上鍍鎳金測厚儀

提供金屬鍍層厚度的測量╃╃·，同時可對電鍍液進行分析╃╃·，不單效能優越,而且價錢*

同比其他牌子相同配置的機器╃╃·，XRF2000為您大大節省成本✘₪↟◕。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果

甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任✘₪↟◕。全自動XYZ樣品臺╃╃·，鐳射自動對焦系統╃╃·，十字線自動調整✘₪↟◕。超大/開放式的樣品臺

可測量較大的產品✘₪↟◕。是線路板₪╃↟、五金電鍍₪╃↟、首飾₪╃↟、端子等行業✘₪↟◕。可測量各類金屬層₪╃↟、合金層厚度等✘₪↟◕。

可測元素範圍₪╃：鈦（Ti） – 鈾（U）  原子序 22 – 92
準直器₪╃：固定種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析 統計功能
 

X射線銅上鍍鎳金測厚儀₪╃：檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等

X射線銅上鍍鎳金測厚儀₪╃：檢測範圍₪╃：0.03-35um